偏压温度不稳定性论文

新型纳米器件的电学特性和可靠性研究
论文摘要集成电路按照摩尔定律和按比例缩小的规律持续发展。在器件小型化的过程中,出现了许多新的问题。其中,纳米MOSFET的关键可靠性问题：偏压温度不稳定性（BiasTemper...
电荷泵浦的测量方法和遂穿晶体管的可靠性模拟
论文摘要半导体器件模拟工具通过数值计算,让我们以虚拟的方式考察半导体器件内部的工作和物理过程,从而帮助我们分析和理解器件的工作原理和特性,探索器件性能的改进方法。本论文应用技术...