器件损伤论文

双极晶体管电磁脉冲损伤机理研究
论文摘要由于半导体器件大部分属于微功耗、微型结构器件,其在外界电应力的作用下可靠性下降,甚至完全失效。电磁脉冲（EMP）是产生外界过电应力的主要原因之一,其对器件的破坏性很大。...