全速扫描论文

论文摘要随着集成电路的发展,芯片结构越来越复杂,传统的测试技术已经不能满足现代集成电路的测试要求,集成电路可测性设计技术应运而生。SOC芯片的可测性设计主要难点在于设计复杂,且...