热载流子效应论文

亚微米MOS器件的热载流子效应研究
论文摘要随着微电子技术的迅速发展,MOS器件特征尺寸不断按比例减小,导致热载流子效应日益严重。近三十年来,MOS器件热载流子效应的研究已经成为了集成电路可靠性问题的重要研究课题...
电荷泵浦的测量方法和遂穿晶体管的可靠性模拟
论文摘要半导体器件模拟工具通过数值计算,让我们以虚拟的方式考察半导体器件内部的工作和物理过程,从而帮助我们分析和理解器件的工作原理和特性,探索器件性能的改进方法。本论文应用技术...
多晶硅薄膜晶体管可靠性研究及其模拟
论文摘要近年来,随着多晶硅薄膜晶体管（poly-SiThinFilmTransistor:TFT）技术的不断发展,其应用也越来越广泛,并被视为a-Si薄膜晶体管的理想替代品。相...
超深亚微米LDD MOSFET器件模型及热载流子可靠性研究
论文题目:超深亚微米LDDMOSFET器件模型及热载流子可靠性研究论文类型:博士论文论文专业:微电子学与固体电子学作者:于春利导师:郝跃关键词:热载流子效应,超深亚微米,模型,...