• 时序成品率优化与直角多边形生成方法研究

    时序成品率优化与直角多边形生成方法研究

    论文摘要随着集成电路特征尺寸的持续减小,芯片的工艺参数发生严重的偏差。工艺偏差对集成电路时序分析已具有严重影响。工艺偏差的精确建模是统计时序分析的前提条件。片内偏差是工艺偏差的...