双极晶体管论文

双极晶体管电磁脉冲损伤机理研究
论文摘要由于半导体器件大部分属于微功耗、微型结构器件,其在外界电应力的作用下可靠性下降,甚至完全失效。电磁脉冲（EMP）是产生外界过电应力的主要原因之一,其对器件的破坏性很大。...
噪声用于半导体大功率激光器及双极晶体管可靠性研究
论文摘要本论文首先叙述了半导体器件的电噪声特性,然后介绍了半导体器件低频电噪声测量常用的方法,改进了半导体器件电噪声测试系统。在此基础上开展了噪声用于器件可靠性检测方面的研究。...