随机存储器论文

基于ADVANTEST的混合测试平台开发
论文摘要半导体存储器作为现代数字系统的重要组成部分,在其生产过程中需要进行严格的测试。不同类型的半导体存储器由于内部结构以及工作原理的不同,需要通过不同的方法进行测试。所有的测...
存储器邻域模型敏感失效测试算法的改进
论文摘要随着半导体技术的快速深入发展,随机存储器记忆体容量越来越大。随机存储器记忆体的测试验证需要越来越多可行的失效模型和有效的测试算法。邻域模型敏感失效是一种复杂的,消耗较长...