锁相环性能测试论文

X微处理器调试结构的设计及实现
论文摘要随着半导体工艺水平的提高，芯片的规模及复杂度异常庞大，其内部节点的机械可探测性大大降低，甚至不可能。这使得调试及测试的难度也大大增强，因此必须在设计中增加可调试性设计。...