• 基于伪随机测试的混合信号BIST研究

    基于伪随机测试的混合信号BIST研究

    论文摘要随着微电子制造工艺和先进设计技术的迅速发展,使得包括各种数字、存储器、模拟和混合信号内核的系统可集成在单个芯片上,即系统芯片SOC(System-on-a-Chip),...