• 典型元器件在高温环境下参数变化机理研究

    典型元器件在高温环境下参数变化机理研究

    论文摘要过高的温度是电子设备可靠性不良的主要原因,在高温环境下仍然能正常运行的电子产品的研制开发被视为这个世纪的关键技术之一。因此,研究典型电子元件在高温工作条件下有效的试验方...