芯片互联线论文

基于FPGA边界扫描单元的多芯片数字测试
论文摘要随着集成电路规模越来越大和SOC系统的设计发展,芯片测试困难,可测性设计提上日程。边界扫描测试是板级测试中的优选,面对高密度多芯片封装系统中复杂的互联测试和芯片功能测试...