芯片失效论文

本文主要研究内容作者冼洁强,黄水华,毛炳雪（2019）在《LED产品老化失效机理分析与探讨》一文中研究指出：本文按照失效分析的流程,对一款失效的LED产品进行分析。外观检查发现失效LED表面发黑,X-Ray探测仪发现LED内部引线断开,SEM电镜检测表明LED芯片外延层烧毁,线径端口烧融的现象,ED...