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    论文摘要随着集成电路技术的不断发展,市场对芯片产品提出了更高的要求,它们必须拥有更强的功能并且体积更小、功耗更低、价格更合理才能在激烈的市场竞争中获得一席之地。在基于IP重用的...
  • 系统级芯片(SoC)可测试性结构及其优化的研究

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    论文摘要随着集成电路工艺的进步和人们对集成电路性能以及上市时间要求不断提高,集成电路技术发展到了系统级芯片(System-on-Chip,SoC)。测试是SoC的关键技术之一。...
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    论文题目:系统级芯片的测试与可测性设计研究论文类型:硕士论文论文专业:电工理论与新技术作者:徐卫林导师:何怡刚,谢宏关键词:系统级芯片,可测性设计,扫描测试,内建自测试,静态电...