• 功率MOS器件抗辐照能力无损评价方法研究

    功率MOS器件抗辐照能力无损评价方法研究

    论文摘要功率MOS器件,特别是VDMOS器件与现在高度发展的超大规模集成电路(VLSI)工艺相容,发展迅速,已经成为电力电子器件发展的主流。同时,它在航空、航天、核电、军事电子...