再综合论文

面向布线拥挤度的布图规划后的高层次再综合方法
论文摘要集成电路制造工艺已经进入了深亚微米的时代,互连线开始成为影响电路性能的决定性因素之一。随着布线层数的增多,布线资源更加丰富。但是,更复杂的电路设计和更高的性能要求使得走...