• 数字电路内建自测试方法的研究

    数字电路内建自测试方法的研究

    论文摘要随着集成电路技术的不断发展,为了提高测试质量并降低测试成本,各种可测性设计方法得到了广发应用。其中,内建自测试(Built-inSelfTest,BIST)是指能够使一...