自动测试模式生成论文

数字电路的故障模型和故障压缩方法研究
论文摘要随着集成电路设计与制造技术的飞速发展，集成电路的复杂度日益提高，规模也越来越大，这使得集成电路的测试变得更加困难。由于测试生成过程长、测试复杂度高、故障覆盖率低，传统的...